Metrology and measurement

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Bewoor, Anand K
Kolejni autorzy: Kulkarni, Vinay A
Język:angielski
Wydane: New Delhi McGraw Hill Education (I) Pvt Ltd 2013
Hasła przedmiotowe:
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!

Podobne zapisy: Metrology and measurement