Metrology and measurement

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Bewoor, Anand K
Kolejni autorzy: Kulkarni, Vinay A
Język:angielski
Wydane: New Delhi McGraw Hill Education (I) Pvt Ltd 2013
Hasła przedmiotowe:
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!

MEGHNAD SAHA INSTITUTE OF TECHNOLOGY: General stacks

Szczegóły zapisu MEGHNAD SAHA INSTITUTE OF TECHNOLOGY: General stacks
Sygnatura: 681.2 B572
Egzemplarz 1 Dostępne Zamów
Egzemplarz 2 Dostępne Zamów
Egzemplarz 3 Dostępne Zamów
Egzemplarz 4 Dostępne Zamów
Egzemplarz 5 Dostępne Zamów
Egzemplarz 6 Dostępne Zamów
Egzemplarz 7 Dostępne Zamów
Egzemplarz 8 Dostępne Zamów
Egzemplarz 9 Dostępne Zamów
Egzemplarz 10 Dostępne Zamów
Egzemplarz 11 Dostępne Zamów