How to prepare for data interpretation for CAT: common admission test and management examinations

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Sharma, Arun
שפה:אנגלית
יצא לאור: Chennai Mcgraw Hill 2022
נושאים:
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

MEGHNAD SAHA INSTITUTE OF TECHNOLOGY: General stacks

פרטי מלאי ספרים מ MEGHNAD SAHA INSTITUTE OF TECHNOLOGY: General stacks
סימן המיקום: 153.94 Sh532e7
עותק 1 זמין ביצוע הזמנה
עותק 2 זמין ביצוע הזמנה